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SRM1976c X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品技術(shù)特性

發(fā)布時(shí)間: 2025-11-07  點(diǎn)擊次數(shù): 18次

SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品產(chǎn)品核心規(guī)格與形態(tài) 

基體材質(zhì):高純度燒結(jié)氧化鋁(剛玉),該材質(zhì)具有極低的 X 射線衰減特性和化學(xué)穩(wěn)定性。 

物理參數(shù):?jiǎn)螁卧獮閳A盤狀結(jié)構(gòu),直徑約 25.6 毫米,厚度約 2.2 毫米,采用專用模具單次沖壓成型。

 表面特性:圓盤表面因壓實(shí)工藝存在約 10μm 的邊緣 - 中心凹陷,但不影響 XRD 測(cè)量精度;基體呈現(xiàn)軸對(duì)稱紋理,基面與圓盤表面平行。 


SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品關(guān)鍵技術(shù)特性 

1. 測(cè)量一致性保障

 固體燒結(jié)圓盤形態(tài)徹l底消除了粉末樣品加載過程中可能引入的強(qiáng)度測(cè)量變異,確保不同實(shí)驗(yàn)室、不同操作人員使用時(shí)的結(jié)果可比性。 


2. 微觀結(jié)構(gòu)優(yōu)勢(shì) 

微應(yīng)變水平極低,僅存在微弱的 tanθ 依賴性高斯展寬,無明顯微晶尺寸展寬現(xiàn)象。晶粒尺寸、形狀及紋理的均一性通過單次批量生產(chǎn)工藝嚴(yán)格控制,為儀器校準(zhǔn)提供穩(wěn)定的衍射響應(yīng)基礎(chǔ)。


 3. 計(jì)量溯源性

 認(rèn)證指標(biāo)包括相對(duì)強(qiáng)度(無量綱比)和晶格參數(shù)(以納米為單位),均溯源至國際單位制(SI)。衍射線位置、偏振影響修正值等關(guān)鍵參數(shù)以信息值形式提供,支持精準(zhǔn)校準(zhǔn)運(yùn)算。


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